株式会社SDK株式会社SDK

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受託テスト

日本国内及び韓国(Okins Electronics)において、デバイスのウェハテスト及びパッケージ出荷テスト業務をお受けする事が可能です。
テスト仕様設計、テスター評価、テストプログラム開発、テスト改善、テストライン不良解析についてご協力が可能です。

過去実績、ESDウェハーテスト、パッケージテスト(LED、CMOSイメージセンサー、MEMS:近接センサー、照度センサー、ジャイロセンサー
CSP/QFN/DFNパッケージ等)

サイト

CR スペース

プロセス

クラス

F1 韓国

CR:641.3u

EDS テスト

<1,000

CR:826.4u

LED テスト

<1,000

F2 韓国

CR:396u

EDS テスト

<100 & 1,000

CR:700u

PKG テスト

<10,000

F3 中国

CR:2644.6u

EDS テスト

<1,000

CR:991.7u

PKG テスト

<10,000

 

Okins Electronics保有設備

No.

Part

Equipment

Model

Q’ty

1

EDS

Tester

Teradyne [ETS-200]

5

1

EDS

Tester

Teradyne [ETS-200]

5

2

EDS

Tester

Teradyne [ETS-300]

1

3

EDS

Tester

Spea [C430MX]

2

4

EDS

Tester

Credence [ASL-1000]

2

5

EDS

Tester

Testian [SPiDer Nano]

1

6

EDS

Tester

Teradyne [A360]

10

7

EDS

Tester

Advantest [T3324]

1

8

EDS

Prober

EG4090u

1

9

EDS

Prober

EG4080

22

10

EDS

Handler

Synax [SX1101]

1

11

EDS

Handler

Merie [MR-5400]

2

12

EDS

RTA

RTA320EG

1

 

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MEMSテスト RTA Systems (ジャイロスコープ)

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デバイス後工程(試作・量産)受託

半導体開発品及び解析を1個からパッケージング致します。

MEMS、イメージセンサの試作から量産まで対応可能です。

 

デバイス後工程(試作・量産)受託

 

デバイス後工程(試作・量産)受託

 


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