多Pin対応（500Pin以上）

ピン数及び使用用途に合わせた構造設計が可能です。
全体荷重、測定対象物のコンタクト部打痕を抑制し全体の荷重が高くなることも抑制する事で手動による容易な操作が可能な構造設計をご要望に合わせ部材を選定し、ご提供致します。
開発基礎段階、試作評価用、量産前抜き取り検査、歩留まり評価、解析などに適用可能です。