多数個搭載対応

信頼性試験、BI試験など多数の測定対象物を一度に評価できる構造設計が可能です。
ベアチップ、パッケージ品など多種の形状で同測出来るソケット構造があります。
試作評価用、BI評価、量産生産効率UP、歩留まり評価などに適用可能です。