다핀 대응(500핀 이상)

핀 수 및 사용 용도에 맞춘 구조 설계가 가능합니다.
전체 하중과 측정 대상물 컨택트부의 타흔을 억제하고 전체 하중이 높아지는 것도 억제하여, 수동으로도 쉽게 조작할 수 있는 구조를 요청에 맞춰 부재를 선정하여 제공합니다.
개발 기초 단계, 시제품 평가, 양산 전 샘플링 검사, 수율 평가, 해석 등에 적용할 수 있습니다.